儀器.jpg "顯微鏡")
境試驗箱.png "環(huán)境試驗箱")
機.jpg "進口打標(biāo)機")
測量機/x5.jpg "長度測量")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
測量機.jpg "三坐標(biāo)測量")
自動冷凍替代儀產(chǎn)品介紹
可用于低溫包埋和聚合過程的自動冷凍替代儀.
Leica EM AFS2主要用于冷凍替代和梯度變溫技術(shù)，同時也可以用于樹脂的低溫包埋和聚合過程。
Leica EM FSP（冷凍替代驅(qū)動器），是為Leica EM AFS2特別設(shè)計的自動化試劑處理系統(tǒng)，可為冷凍替代和梯度變溫過程自動稀釋和更換試劑。樣品室內(nèi)部和體視顯微鏡下都裝有LED照明燈，觀察和定位樣品簡單方便。
節(jié)省時間
自動吸取100%濃度試劑,加以稀釋，節(jié)省用戶準(zhǔn)備試劑和設(shè)置儀器的時間
一體化操作
使用FSP內(nèi)置的LED紫外燈管可對樣品進行快速紫外光聚合，用戶只需設(shè)置好儀器，直到運行結(jié)束，無需用戶干預(yù)，稀釋、更換試劑以及紫外聚合將由儀器自動完成.
標(biāo)本保持干燥
樣品室內(nèi)液氮氣化速度可調(diào)節(jié)，保證樣品和樣品室環(huán)境的干燥，避免樣品污染。
自動冷凍替代儀技術(shù)參數(shù)
自動冷凍替代儀標(biāo)準(zhǔn)配置
自動冷凍替代儀可選配件
自動冷凍替代儀相關(guān)視頻
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自動冷凍替代儀資料下載
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自動冷凍替代儀相關(guān)產(chǎn)品
儀器/日本Nikon顯微鏡/方JCM 6000臺式電子掃描顯微鏡.jpg "臺式電子掃描顯微鏡")
Leica EM VCT500真空冷凍傳輸系統(tǒng)可以在冷凍或常溫，真空或保護氣體條件下傳輸樣品。它可以連接您的工作流程系統(tǒng)，憑借主動樣品冷卻和全新的閥門概念優(yōu)化您的樣品傳輸，并在對接后在工作流程中隨時監(jiān)控樣品的溫度和真空度。
